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起草人: 张予秋
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YS/T 872-2013
工业镓化学分析方法　汞含量的测定　原子荧光光谱法
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Methods for chemical analysis gallium—Determination of mercury in industrial gallium—Atomic fluorescence spectrometer method
发布单位或类别：行业标准-有色金属
发布日期： 2013-04-25
现行
YS/T 666-2008
工业镓化学分析方法　杂质元素的测定　电感耦合等离子体原子发射光谱法
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Chemical analysis methods of gallium for industrial use—Determination of impurity elements—Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
发布单位或类别：行业标准-有色金属
发布日期： 2008-03-12
被代替
YS/T 244.9-2008
高纯铝化学分析方法　第9部分:电感耦合等离子体质谱法　测定杂质含量
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Chemical analysis methods of high purity aluminum—Part 9:Determination of trace impurities in high purity aluminumby inductively coupled mass spectrometry
发布单位或类别：行业标准-有色金属
发布日期： 2008-03-12
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