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标准号
发布时间
现行
GB/T 43034.3-2023
集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分：非同步瞬态注入法
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Integrated circuits—Measurement of impulse immunity—Part 3: Non-synchronous transient injection method
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-09-07
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
正在批准
20204839-T-339
集成电路 电磁抗扰度测量 第4部分：射频功率直接注入法
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Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 4: Direct RF power injection method
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2020-12-24
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
正在批准
20204841-T-339
集成电路 电磁发射测量 第4部分：传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法
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Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 4: Measurement of conducted emissions—1Ω/150Ω direct coupling method
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2020-12-24
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
正在批准
20214711-T-339
集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法
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Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 9: Measurement of radiated immunity-Surface scan method
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2021-12-31
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
正在批准
20221350-T-339
集成电路 电磁发射测量 第1部分: 通用条件和定义
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Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1: General conditions and definitions
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2022-12-13
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
正在批准
20214063-T-339
集成电路 电磁发射测量 第5部分：传导发射测量 工作台法拉第笼法
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Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions,150kHz to 1GHz-Part 5:Measurement of conducted emissions？- Workbench Faraday Cage method
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2021-10-13
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 42968.8-2023
集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法
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Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 8: Measurement of radiated immunity—IC stripline method
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-09-07
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
正在批准
20214060-T-339
集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入（BCI）法
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Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz- Part 3: Bulk current injection (BCI) method
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2021-10-13
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
正在批准
20214061-T-339
集成电路 电磁抗扰度测量 第5部分：工作台法拉第笼法
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Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 5: Workbench Faraday cage method
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2021-10-13
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
正在批准
20214066-T-339
集成电路 电磁发射测量 第6部分：传导发射测量 磁场探头法
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Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz-Part 6: Measurement of conducted emissions-Magnetic probe method
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2021-10-13
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
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每周一至周五8:30-17:00（节假日不开放）
地 址：
北京市海淀区知春路4号
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乘坐地铁10号线、昌平线，在西土城站下车D口出后西行150米即可到达。
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