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起草人: 李树杰
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GB/T 4937.11-2018
半导体器件　机械和气候试验方法　第11部分：快速温度变化　双液槽法
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Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 11:Rapid change of temperature—Two-fluid-bath method
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2018-09-17
现行
SJ 21271-2018
微波组件温度-湿度-振动综合应力试验方法
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Integrated environmental test method of temperature-humidity-vibration for microwave assembly
发布单位或类别：行业标准-电子
发布日期： 2018-01-18
CCS分类：
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SJ 21270-2018
微波组件冲击响应谱试验方法
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The method for microwave assembly of shock response spectrum test
发布单位或类别：行业标准-电子
发布日期： 2018-01-18
CCS分类：
ICS分类：
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SJ/T 10744-1996
钨钼丝生产专用名词术语
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Glossary of terms for production of tungsten and molybdenum wires
发布单位或类别：行业标准-电子
发布日期： 1996-11-20
ICS分类：
现行
GB/T 4937.12-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动
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Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 12: Vibration, variable frequency
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2018-09-17
现行
GB/T 4937.13-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾
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Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 13: Salt atmosphere
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2018-09-17
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