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标准号
发布时间
现行
GB/T 41805-2022
光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法
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Methodology for the quantitative inspection of the defect on optics surface—Microscopic scattering dark-field imaging
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2022-10-12
CCS分类：
N05仪器、仪表用材料和元件
ICS分类：
81.040.01玻璃综合
【到馆阅览须知】
国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号，可接待到馆读者，为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
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6. 请遵守公共秩序和国家标准馆相关管理规定，服从工作人员管理，自觉维护参观秩序和良好的阅读环境。
开放时间：
每周一至周五8:30-17:00（节假日不开放）
地 址：
北京市海淀区知春路4号
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乘坐地铁10号线、昌平线，在西土城站下车D口出后西行150米即可到达。
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