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现行
SJ/T 11705-2018
微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法
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Ground and power supply impedance test method for microelectronics device packages
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
2018-02-09
CCS分类：
L55微电路综合
ICS分类：
31.260光电子学、激光设备
现行
GB/T 38345-2019
宇航用半导体集成电路通用设计要求
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General design requirements of semiconductor integrate circuit for space application
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2019-12-31
CCS分类：
V25电子元器件
ICS分类：
49.035航空航天制造用零部件
现行
GB/T 39340-2020
宇航电子时间确定性网络协议
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Aerospace electronic time deterministic network protocol
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2020-11-19
CCS分类：
V25电子元器件
ICS分类：
49.035航空航天制造用零部件
现行
GB/T 43226-2023
宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
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Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-09-07
CCS分类：
V25电子元器件
ICS分类：
49.140航天系统和操作装置
现行
GB/T 43228-2023
宇航用抗辐射加固集成电路单元库设计要求
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Design requirements for space radiation-hardened integrated circuit standard cell library
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-09-07
CCS分类：
V25电子元器件
ICS分类：
49.140航天系统和操作装置
现行
GB/T 35005-2018
集成电路倒装焊试验方法
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Test methods for flip chip integrated circuits
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2018-03-15
CCS分类：
L55微电路综合
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 35009-2018
串行NAND型快闪存储器接口规范
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Specification for serial NAND flash interface
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2018-03-15
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 43227-2023
宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法
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Test methods for space vapour deposition protective film on semiconductor wire
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-09-07
CCS分类：
A29材料防护
ICS分类：
49.040有关航空航天制造用镀涂和有关工艺
【到馆阅览须知】
国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号，可接待到馆读者，为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
1. 本馆向在国家数字标准馆网络平台上完成实名注册和预约的读者开放。
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6. 请遵守公共秩序和国家标准馆相关管理规定，服从工作人员管理，自觉维护参观秩序和良好的阅读环境。
开放时间：
每周一至周五8:30-17:00（节假日不开放）
地 址：
北京市海淀区知春路4号
乘车线路：
乘坐地铁10号线、昌平线，在西土城站下车D口出后西行150米即可到达。
服务咨询：
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