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SJ 21550-2020
微电子封装陶瓷外壳高速信号传输性能测试方法
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Test method for high speed signal transfer charactrics of microelectronics ceramic packages
发布单位或类别：行业标准-电子
发布日期： 2020-06-03
CCS分类：
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GB/T 35010.6-2018
半导体芯片产品 第6部分：热仿真要求
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Semiconductor die products—Part 6: Requirements for concerning thermal simulation
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2018-03-15
CCS分类：L55微电路综合
现行
GB/T 35005-2018
集成电路倒装焊试验方法
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Test methods for flip chip integrated circuits
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2018-03-15
CCS分类：L55微电路综合
现行
GB/T 43227-2023
宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法
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Test methods for space vapour deposition protective film on semiconductor wire
发布单位或类别：国家标准
发布日期： 2023-09-07
CCS分类：A29材料防护
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  • 《国家标准化发展纲要》提出建设国家数字标准馆，推动标准化工作向数字化、网络化、智能化转型。中国标准化研究院正在全力推进国家数字标准馆建设，力争在2026年底建成“一个中心”和“一个平台”，即全球领先的标准数据资源中心，涵盖标准全生命周期的数字化、网络化、智能化研究与服务平台。
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