登 录
注 册
个人中心
退出账号
首页
馆藏资源
舆情信息
标准服务
科研活动
关于我们
国家标准
行业标准
地方标准
团体标准
国际（区域）标准
国外国家标准
国际性专业标准
技术法规
国内舆情
国际舆情
文献服务
知识服务
服务站点
标准数字化
技贸措施研究
国家标准馆
国家数字标准馆
发展大事记
搜索
高级检索
批量检索
高级检索
起草人: 邵伟恒
标准层级
全部
国家标准
行业标准
地方标准
团体标准
国际（区域）标准
国外国家标准
国际性专业标准
技术法规
国家
全部
中国(8)
标准组织
全部
国家标准研制计划(5)
团体标准(3)
发布年代
全部
2023(2)
2022(1)
2021(5)
标准状态
全部
现行(3)
ICS
全部
31电子学(8)
CCS
全部
L电子元器件与信息技术(5)
展开全部分类
排序结果：
相关性
标准号
发布时间
现行
T/CSTM 00910-2022
高频介质基板的介电常数和介质损耗角正切测试方法 带状线测试法
到馆提醒
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
发布单位或类别：
团体标准
发布日期：
2022-12-27
CCS分类：
L电子元器件与信息技术
ICS分类：
31.180印制电路和印制电路板
现行
T/CSTM 00989-2023
微波参数在高温、低温、温度循环、湿度载荷下的测试方法
到馆提醒
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
发布单位或类别：
团体标准
发布日期：
2023-04-21
CCS分类：
L电子元器件与信息技术
ICS分类：
31.180印制电路和印制电路板
现行
T/CSTM 00992-2023
面向通信用关键材料的高频信号电磁辐射环境试验方法
到馆提醒
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
发布单位或类别：
团体标准
发布日期：
2023-06-01
CCS分类：
L电子元器件与信息技术
ICS分类：
31.180印制电路和印制电路板
正在批准
20214060-T-339
集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入（BCI）法
到馆提醒
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz- Part 3: Bulk current injection (BCI) method
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2021-10-13
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
正在批准
20214066-T-339
集成电路 电磁发射测量 第6部分：传导发射测量 磁场探头法
到馆提醒
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz-Part 6: Measurement of conducted emissions-Magnetic probe method
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2021-10-13
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
正在批准
20213161-T-339
集成电路电磁兼容建模 第3部分：集成电路电磁干扰特性仿真模型 辐射发射建模（ICEM-RE）
到馆提醒
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
EMC IC Modelling -Part 3: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation -Radiated emissions modelling (ICEM-RE)
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2021-08-24
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
正在批准
20214062-T-339
车辆集成电路电磁兼容试验通用规范
到馆提醒
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
EMC Test Generic Specification of Vehicle IC
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2021-10-13
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.100电子管
正在批准
20214069-T-339
集成电路 电磁发射测量 第3部分：辐射发射测量 表面扫描法
到馆提醒
收藏跟踪
分享链接
微信扫一扫：分享
微信里点“发现”，扫一下
二维码便可将本文分享至朋友圈。
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions-Part 3: Measurement of radiated emissions-Surface scan method
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2021-10-13
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
【到馆阅览须知】
国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号，可接待到馆读者，为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
1. 本馆向在国家数字标准馆网络平台上完成实名注册和预约的读者开放。
2. 请勿在非开放范围随意走动和从事与国家标准馆所提供服务无关的活动。
3. 请勿携带食品、有色和含糖饮料进入阅览区域。
4. 禁止在馆区内吸烟和使用明火，禁止携带易燃、易爆、有毒等危险品。
5. 请注意仪表着装，衣冠整洁得体，言谈举止文明。
6. 请遵守公共秩序和国家标准馆相关管理规定，服从工作人员管理，自觉维护参观秩序和良好的阅读环境。
开放时间：
每周一至周五8:30-17:00（节假日不开放）
地 址：
北京市海淀区知春路4号
乘车线路：
乘坐地铁10号线、昌平线，在西土城站下车D口出后西行150米即可到达。
服务咨询：
赵老师 电话：010-58811369 邮箱：zhaoping@cnis.ac.cn
刘老师 电话：010-58811368 邮箱：liuyzh@cnis.ac.cn
取消
确认预约到馆
搜索
首页
馆藏资源
舆情信息
标准服务
科研活动
关于我们
️版权归中国标准化研究院所有