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标准号
发布时间
现行
T/IAWBS 012-2019
碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法
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发布单位或类别：
团体标准
发布日期：
2019-12-27
CCS分类：
H83化合物半导体材料
ICS分类：
29.045半导体材料
现行
SJ 21447-2018
CdSe-N-T01 型红外国体激光器用晒化镉单晶材料规范
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Specification for cadmium selenide monocrystal of CdSe-N-TOl used for infrared solid state laser
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
2018-01-18
CCS分类：
ICS分类：
现行
SJ 21446-2018
CdS-N-T 型红外/紫外双色探测用硫化镉单晶片规范
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Specification for cadmium sulfide monocrystalline wafers of CdS-N-T used for infrared/ultraviolet two-color detector
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
2018-01-18
CCS分类：
ICS分类：
现行
SJ 21445-2018
CdS-N 型红外/紫外双色探测用硫化镉单晶片规范
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Specification for cadmium sulfide monocrystalline wafers of CdS-N used for infrared/ultraviolet two-color detector
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
2018-01-18
CCS分类：
ICS分类：
现行
SJ 21444-2018
β-Ga203-N 型氧化镓单晶片规范
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Specification for gallium oxide monocrystalline wafers of β-Ga203-N
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
2018-01-18
CCS分类：
ICS分类：
现行
SJ 21443-2018
GaN-N 型低阻氮化镓单晶片规范
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Specification for low resisfance gallium nitridemonocrystalline wafers of GaN-N
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
2018-01-18
CCS分类：
ICS分类：
现行
SJ 21442-2018
GaN-SI 型半绝缘氮化镓单晶片规范
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Specification for semi-insulating gallium nitride monocrystalline wafers of GaN-SI
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
2018-01-18
CCS分类：
ICS分类：
现行
SJ 21441-2018
SiC-HPSI 型高纯半绝缘碳化硅单晶片规范
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Specification for high purity semi-insulating silicon carbide monocrystalline wafers of SiC-HPSI
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
2018-01-18
CCS分类：
ICS分类：
【到馆阅览须知】
国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号，可接待到馆读者，为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
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每周一至周五8:30-17:00（节假日不开放）
地 址：
北京市海淀区知春路4号
乘车线路：
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