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L电子元器件与信息技术(6)
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标准号
发布时间
现行
T/CESA 1119-2020
人工智能芯片 面向云侧的深度学习芯片测试指标与测试方法
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发布单位或类别：
团体标准
发布日期：
2020-10-30
CCS分类：
L电子元器件与信息技术
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
T/CESA 1121-2020
人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法
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发布单位或类别：
团体标准
发布日期：
2020-10-30
CCS分类：
A40/49基础学科
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
T/CESA 1120-2020
人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法
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发布单位或类别：
团体标准
发布日期：
2020-10-30
CCS分类：
L60/69计算机
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 50780-2013
电子工程建设术语标准(附条文说明)
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Terminology standard of electronics engineering construction
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2013-02-07
CCS分类：
ICS分类：
现行
GB/T 35010.2-2018
半导体芯片产品 第2部分：数据交换格式
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Semiconductor die products—Part 2: Exchange data formats
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2018-03-15
CCS分类：
L55微电路综合
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 35006-2018
半导体集成电路 电平转换器测试方法
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Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2018-03-15
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 42975-2023
半导体集成电路 驱动器测试方法
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Semiconductor integrated circuits—Test method of driver device
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-09-07
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 36479-2018
集成电路 焊柱阵列试验方法
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Integrated circuits—Test methods for column grid array
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2018-06-07
CCS分类：
L55微电路综合
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 35010.7-2018
半导体芯片产品 第7部分：数据交换的XML格式
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Semiconductor die products—Part 7: XML schema for data exchange
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2018-03-15
CCS分类：
L55微电路综合
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
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国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号，可接待到馆读者，为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
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每周一至周五8:30-17:00（节假日不开放）
地 址：
北京市海淀区知春路4号
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