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标准号
发布时间
现行
GB/T 43034.3-2023
集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分：非同步瞬态注入法
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Integrated circuits—Measurement of impulse immunity—Part 3: Non-synchronous transient injection method
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-09-07
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
正在批准
20214711-T-339
集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法
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Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 9: Measurement of radiated immunity-Surface scan method
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2021-12-31
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
GB/T 37977.21-2023
静电学 第2-1部分：试验方法 材料和产品静电荷消散能力
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Electrostatics—Part 2-1: Measurement methods—Ability of materials and products to dissipate static electric charge
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-08-06
CCS分类：
L06电磁兼容
ICS分类：
17.220.20电和磁量值的测量
现行
GB/T 42968.8-2023
集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法
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Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 8: Measurement of radiated immunity—IC stripline method
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-09-07
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
未生效
GB/T 37977.41-2024
静电学 第4-1部分：特定应用中的标准试验方法 地板覆盖层和装配地板的电阻
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Electrostatics—Part 4-1: Standard test methods for specific applications—Electrical resistance of floor coverings and installed floors
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2024-08-23
CCS分类：
L04基础标准与通用方法
ICS分类：
17.220.20电和磁量值的测量
未生效
GB/T 37977.46-2024
静电学 第4-6部分：特定应用中的标准试验方法 腕带
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Electrostatics—Part 4-6: Standard test methods for specific applications—Wrist straps
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2024-08-23
CCS分类：
L04基础标准与通用方法
ICS分类：
17.220.20电和磁量值的测量
现行
GB/T 42968.1-2023
集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件和定义
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Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 1: General conditions and definitions
发布单位或类别：
国家标准
发布日期：
2023-09-07
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
正在批准
20214062-T-339
车辆集成电路电磁兼容试验通用规范
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EMC Test Generic Specification of Vehicle IC
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2021-10-13
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.100电子管
正在批准
20213160-T-339
集成电路电磁兼容建模 第2部分：集成电路电磁干扰特性仿真模型 传导发射建模（ICEM-CE）
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EMC IC Modelling -Part 2: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation -Conductedemissions modelling (ICEM-CE)
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2021-08-24
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
正在批准
20214069-T-339
集成电路 电磁发射测量 第3部分：辐射发射测量 表面扫描法
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Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions-Part 3: Measurement of radiated emissions-Surface scan method
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2021-10-13
CCS分类：
L56半导体集成电路
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
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国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号，可接待到馆读者，为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
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每周一至周五8:30-17:00（节假日不开放）
地 址：
北京市海淀区知春路4号
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