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现行
GB/T 41805-2022
光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法
Methodology for the quantitative inspection of the defect on optics surface—Microscopic scattering dark-field imaging
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2022-10-12
现行
GB/T 43846.1-2024
显微镜 显微镜物镜的命名 第1部分:像场平面度/平场
Microscopes—Designation of microscope objectives—Part 1: Flatness of field/Plan
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2024-04-25
ICS分类:37.020光学设备