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  • 发布时间
现行
GB/T 4937.18-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分:电离辐射(总剂量)
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 18:Ionizing radiation(total dose)
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2018-09-17
现行
GB/T 4937.11-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 11:Rapid change of temperature—Two-fluid-bath method
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2018-09-17
现行
GB/T 4937.19-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分:芯片剪切强度
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 19:Die shear strength
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2018-09-17