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发布时间
现行
GB/T 11070-2017
还原锗锭
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Reduced germanium ingot
发布单位或类别:
国家标准
发布日期:
2017-10-14
CCS分类:
H66稀有分散金属及其合金
ICS分类:
77.150有色金属产品
现行
GB/T 37211.2-2018
金属锗化学分析方法 第2部分:铝、铁、铜、镍、铅、钙、镁、钴、铟、锌含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
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Methods for chemical analysis of germanium metal—Part 2:Determination of aluminium,iron,copper,nickle,lead,cadmium, magnesium,cobalt,indium,zinc content—Inductively coupled plasma mass spectrometry method
发布单位或类别:
国家标准
发布日期:
2018-12-28
CCS分类:
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类:
77.040金属材料试验
现行
GB/T 11093-2007
液封直拉法砷化镓单晶及切割片
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Liquid encapsulated czochralski - grown gallium arsenide single crystals and as-cut slices
发布单位或类别:
国家标准
发布日期:
2007-09-11
CCS分类:
H83化合物半导体材料
ICS分类:
29.045半导体材料
现行
GB/T 11069-2017
高纯二氧化锗
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High purity germanium dioxide
发布单位或类别:
国家标准
发布日期:
2017-10-14
CCS分类:
H66稀有分散金属及其合金
ICS分类:
77.150有色金属产品
现行
GB/T 8756-2018
锗晶体缺陷图谱
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Collection of metallographs on defects of germanium crystal
发布单位或类别:
国家标准
发布日期:
2018-12-28
CCS分类:
H80半金属与半导体材料综合
ICS分类:
29.045半导体材料
现行
GB/T 11073-2007
硅片径向电阻率变化的测量方法
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Standard method for measuring radial resistivity variation on silicon slices
发布单位或类别:
国家标准
发布日期:
2007-09-11
CCS分类:
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类:
77.040.01金属材料试验综合
现行
GB/T 11071-2018
区熔锗锭
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Zone-refined germanium ingot
发布单位或类别:
国家标准
发布日期:
2018-12-28
CCS分类:
H66稀有分散金属及其合金
ICS分类:
77.150有色金属产品
现行
GB/T 11068-2006
砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法
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Gallium arsenide epitaxial layer - determination of carrier concentration voltage-capacitance method
发布单位或类别:
国家标准
发布日期:
2006-07-18
CCS分类:
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类:
77.040.01金属材料试验综合
现行
GB/T 8758-2006
砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法
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Measuring thickness of epitaxial layers of gallium arsenide by infrared interference
发布单位或类别:
国家标准
发布日期:
2006-07-18
CCS分类:
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类:
77.040.01金属材料试验综合
现行
GB/T 37211.1-2018
金属锗化学分析方法 第1部分:砷含量的测定 砷斑法
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Methods for chemical analysis of germanium metal—Part 1:Determination of arsenic content—Arsenic stain method
发布单位或类别:
国家标准
发布日期:
2018-12-28
CCS分类:
H17半金属及半导体材料分析方法
ICS分类:
77.040金属材料试验
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