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被代替
GB/T 18907-2002
透射电子显微镜选区电子衍射分析方法
Method of selected area electron diffraction for transmission electron microscopes
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2002-12-05
ICS分类:37.020光学设备
被代替
GB/T 22571-2008
表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准
Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectrometers—Calibration of energy scales
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2008-12-11
被代替
GB/T 20724-2006
薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2006-12-25
被代替
Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2006-12-25
被代替
GB/T 15246-2002
硫化物矿物的电子探针定量分析方法
Quantitative analysis of sulfide minerals by electron probe microanalysis
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2002-11-11
ICS分类:37.020光学设备
现行
GB/T 21638-2008
钢铁材料缺陷电子束显微分析方法通则
Guide for electron beam microananlysis of defect in steel materials
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2008-04-11
现行
GB/T 20307-2006
纳米级长度的扫描电镜测量方法通则
General rules for nanometer-scale length measurement by SEM
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2006-07-19
被代替
GB/T 19502-2004
表面化学分析 辉光放电发射光谱方法通则
Surface chemical analysis—Glow discharge optical emission spectrometry(GD-OSE)—Introduction to use
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2004-04-30
被代替
GB/T 17507-1998
电子显微镜 X射线能谱分析生物薄标样通用技术条件
General specification of thin biological standards for X-Ray EDS microanalysis in electron microscope
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 1998-10-16
ICS分类:37.020光学设备
被代替
GB/T 17506-1998
船舶黑色金属腐蚀层的电子探针分析方法
The method of electron probe microanalysis as corrosive layer on ferrous metals of ship
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 1998-10-16
ICS分类:37.020光学设备