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ISO 23124:2024
Surface chemical analysis — Measurement of lateral and axial resolutions of a Raman microscope
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表面化学分析拉曼显微镜横向和轴向分辨率的测量
发布单位或类别：国际标准化组织
发布日期： 2024-04-26
CCS分类：
现行
ISO 17331:2004/Amd 1:2010
Surface chemical analysis — Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy — Amendment 1
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表面化学分析.硅片工作标准物质表面元素收集及其全反射X射线荧光光谱测定的化学方法.修改件1
发布单位或类别：国际标准化组织
发布日期： 2010-07-05
CCS分类：
废止
ISO 16413:2013
Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry — Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting
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用X射线反射法评价薄膜的厚度、密度和界面宽度——仪器要求、校准和定位、数据收集、数据分析和报告
发布单位或类别：国际标准化组织
发布日期： 2013-02-12
CCS分类：
现行
ISO/TS 18507:2015
Surface chemical analysis — Use of Total Reflection X-ray Fluorescence spectroscopy in biological and environmental analysis
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表面化学分析 - 全反射X射线荧光光谱在生物和环境分析中的应用
发布单位或类别：国际标准化组织
发布日期： 2015-07-22
CCS分类：
现行
ISO 24465:2023
Surface chemical analysis — Determination of the minimum detectability of surface plasmon resonance device
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表面化学分析.表面等离子体共振装置最小可检测性的测定
发布单位或类别：国际标准化组织
发布日期： 2023-01-10
CCS分类：
废止
ISO 14706:2000
Surface chemical analysis — Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
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表面化学分析——全反射X射线荧光光谱法测定硅片表面元素污染
发布单位或类别：国际标准化组织
发布日期： 2000-12-21
CCS分类：
现行
ISO 16413:2020
Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry — Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting
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通过X射线反射法评估薄膜的厚度 密度和界面宽度 - 仪器要求 对准和定位 数据采集 数据分析和报告
发布单位或类别：国际标准化组织
发布日期： 2020-08-14
CCS分类：
现行
ISO/TR 19693:2018
Surface chemical analysis — Characterization of functional glass substrates for biosensing applications
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表面化学分析 - 用于生物传感应用的功能性玻璃基底的表征
发布单位或类别：国际标准化组织
发布日期： 2018-02-09
CCS分类：
现行
ISO 18337:2015
Surface chemical analysis — Surface characterization — Measurement of the lateral resolution of a confocal fluorescence microscope
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表面化学分析 - 表面表征 - 共焦荧光显微镜横向分辨率的测量
发布单位或类别：国际标准化组织
发布日期： 2015-06-19
CCS分类：
现行
ISO 14706:2014
Surface chemical analysis — Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
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表面化学分析 - 通过全反射X射线荧光（TXRF）光谱测定硅晶片上的表面元素污染
发布单位或类别：国际标准化组织
发布日期： 2014-07-25
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