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现行
IEC 62228-6:2022
Integrated circuit - EMC evaluation of transceivers - Part 6: PSI5 transceivers
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集成电路.收发器的EMC评估.第6部分:PSI5收发器
发布单位或类别：
国际电工委员会
发布日期：
2022-11-08
CCS分类：
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
已修订
IEC 62433-2:2008
EMC IC modelling - Part 2: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation - Conducted emissions modelling (ICEM-CE)
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EMC IC建模.第2部分:EMI行为模拟用集成电路模型.传导发射建模（ICEM-CE）
发布单位或类别：
国际电工委员会
发布日期：
2008-10-08
CCS分类：
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
IEC 61967-4:2021 RLV
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 ohm/150 ohm direct coupling method
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集成电路电磁发射的测量第4部分:传导发射的测量1欧姆/150欧姆直接耦合法
发布单位或类别：
国际电工委员会
发布日期：
2021-03-16
CCS分类：
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
IEC 62132-1:2015
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 1: General conditions and definitions
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集成电路 - 电磁抗扰度测量 - 第1部分:一般条件和定义
发布单位或类别：
国际电工委员会
发布日期：
2015-10-29
CCS分类：
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
IEC 62228-2:2016
Integrated circuits - EMC evaluation of transceivers - Part 2: LIN transceivers
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集成电路 - 收发器的Emc评估 - 第2部分:林收发器
发布单位或类别：
国际电工委员会
发布日期：
2016-11-18
CCS分类：
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
IEC 62433-3:2017
EMC IC modelling - Part 3: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation - Radiated emissions modelling (ICEM-RE)
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EMC IC建模 - 第3部分:用于EMI行为模拟的集成电路模型 - 辐射发射建模（ICEM-RE）
发布单位或类别：
国际电工委员会
发布日期：
2017-01-27
CCS分类：
ICS分类：
33.100.10发射
已修订
IEC TR 61967-1-1:2010
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1-1: General conditions and definitions - Near-field scan data exchange format
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集成电路.电磁发射的测量.第1-1部分:一般条件和定义.近场扫描数据交换格式
发布单位或类别：
国际电工委员会
发布日期：
2010-05-11
CCS分类：
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
IEC 62228-7:2022
Integrated circuits - EMC evaluation of transceivers - Part 7: CXPI transceivers
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集成电路.收发器的EMC评估.第7部分:CXPI收发器
发布单位或类别：
国际电工委员会
发布日期：
2022-02-22
CCS分类：
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
IEC 60748-2-20:2008
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2-20: Digital integrated circuits - Family specification - Low voltage integrated circuits
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半导体器件 - 集成电路 - 第2-20部分:数字集成电路 - 系列规范 - 低压集成电路
发布单位或类别：
国际电工委员会
发布日期：
2008-02-27
CCS分类：
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
现行
IEC 61967-8:2023 RLV
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method
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集成电路.电磁发射的测量.第8部分:辐射发射的测量.IC带状线法
发布单位或类别：
国际电工委员会
发布日期：
2023-05-03
CCS分类：
ICS分类：
31.200集成电路、微电子学
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国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号，可接待到馆读者，为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
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6. 请遵守公共秩序和国家标准馆相关管理规定，服从工作人员管理，自觉维护参观秩序和良好的阅读环境。
开放时间：
每周一至周五8:30-17:00（节假日不开放）
地 址：
北京市海淀区知春路4号
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乘坐地铁10号线、昌平线，在西土城站下车D口出后西行150米即可到达。
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