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现行 MIL DESC 5962-96599
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MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADITION HARDENED CMOS, 9-BIT PARITY GENERATOR/CHECKER, MONOLITHIC SILICON 微电路 数字 抗辐射CMOS 9位奇偶校验发生器/检测器 单片硅
发布日期: 1995-12-13
分类信息
发布单位或类别: 美国-美国军事规范和标准
关联关系
研制信息
相似标准/计划/法规
现行
MIL DESC 5962-96599 Notice B-Revision
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADITION HARDENED CMOS, 9-BIT PARITY GENERATOR/CHECKER, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 辐射硬化CMOS 9位奇偶校验发生器/检验器 单片硅
1997-07-24
现行
MIL DESC 5962-96599 Notice A-Revision
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADITION HARDENED CMOS, 9-BIT PARITY GENERATOR/CHECKER, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 辐射硬化CMOS 9位奇偶校验发生器/检验器 单片硅
1997-03-14
现行
MIL DSCC 5962-96708C
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED ADVANCED CMOS, 9-BIT ODD/EVEN PARITY GENERATOR CHECKER, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-96708)
微电路 数字 抗辐射先进CMOS 9位奇偶校验发生器检测器 单片硅(取代DESC 5962-96708)
2000-06-14
现行
MIL DSCC 5962-96582B
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, 9-BIT ODD/EVEN PARITY GENERATOR/CHECKER, MONOLITHIC SILICON(SUPERSEDING DESC 5962-96582)
微电路 数字 抗辐射 高级CMOS 9位奇偶校验发生器/检测器 单片硅(取代DESC 5962-96582)
2006-03-20
现行
MIL DESC 5962-96582 Notice A-Revision
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, 9-BIT ODD/EVEN PARITY GENERATOR/CHECKER, MONOLITHIC SILICON(S/S BY DSCC 5962-96582B)
微电路 数字 辐射硬化 高级CMOS 9位奇数/偶数奇偶校验发生器/检验器 单片硅(由DSCC 5962-96582B提供的S/S)
1996-11-18
现行
MIL DESC 5962-96582
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, 9-BIT ODD/EVEN PARITY GENERATOR/CHECKER, MONOLITHIC SILICON(S/S BY DSCC 5962-96582B)
微电路 数字 抗辐射 高级CMOS 9位奇偶校验发生器/检测器 单片硅(S/S由DSCC 5962-96582B提供)
1996-05-20
现行
MIL DESC 5962-95737
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADITATION HARDENED HIGH SPEED CMOS, 4-BIT BIMARY REPPLE COUNTER, TTL COMPATIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 抗辐射高速CMOS 4位双进制重复计数器 TTL兼容输入 单片硅
1995-12-04
现行
MIL DESC 5962-95737 Notice A-Revision
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADITATION HARDENED HIGH SPEED CMOS, 4-BIT BIMARY REPPLE COUNTER, TTL COMPATIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 辐射硬化高速CMOS 4位二进制重复计数器 TTL兼容输入 单片硅
1998-01-28
现行
MIL DSCC 5962-96720C
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED ADVANCED CMOS, 9-BIT ODD/EVEN PARITY GENERATOR CHECKER, TTL COMPTIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-96720)
微电路、数字、抗辐射高级CMOS、9位奇偶校验发生器、TTL兼容输入、单片硅(取代DESC 5962-96720)
2000-07-03
现行
MIL DSCC 5962-96583B
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, 9-BIT ODD/EVEN PARITY GENERATOR/CHECKER, TTL COMPATIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON(SUPERSEDING DESC 5962-96583)
微电路 数字 抗辐射 高级CMOS 9位奇偶校验发生器/检测器 TTL兼容输入 单片硅(取代DESC 5962-96583)
2006-03-20
现行
MIL DESC 5962-96583 Notice A-Revision
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, 9-BIT ODD-EVEN PARITY GENERATOR/CHECKER, TTL COMPATIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON(S/S BY DSCC 5962-96583B)
微电路 数字 辐射硬化 高级CMOS 9位奇偶校验发生器/校验器 TTL兼容输入 单片硅(由DSCC 5962-96583B提供的S/S)
1996-11-18
现行
MIL DESC 5962-96583
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, 9-BIT ODD-EVEN PARITY GENERATOR/CHECKER, TTL COMPATIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON(S/S BY DSCC 5962-96583B)
微电路、数字、抗辐射、高级CMOS、9位奇偶校验发生器/检测器、TTL兼容输入、单片硅(由DSCC 5962-96583B提供)
1996-05-20
现行
MIL DSCC 5962-92201A
MICROCIRCUIT, DIGITAL, ADVANCED CMOS, NINE-BIT PARITY GENERATOR/CHECKER, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-92201)
微电路 数字 高级CMOS 九位奇偶校验发生器/检测器 单片硅(取代DESC 5962-92201)
2003-04-17
现行
MIL DSCC 06240A
MICROCIRCUIT, DIGITAL, ADVANCED CMOS, RADIATION HARDENED, 9-BIT LATCHABLE TRANSCEIVER WITH PARITY GENERATOR/ CHECKER WITH NON-INVERTING THREE-STATE OUTPUTS, TTL COMPATIBLE INPUTS AND OUTPUTS, MONOLITHIC SILICON(SUPERSEDING DSCC 06240)
微电路、数字、高级CMOS、抗辐射、9位可锁存收发器 带奇偶校验发生器/检测器 具有非反相三态输出、TTL兼容输入和输出、单片硅(取代DSCC 06240)
2007-04-17
现行
MIL DESC 5962-92197
MICROCIRCUIT, DIGITAL, ADVANCECD CMOS, OCTAL BIDIRECTIONAL TRANSCEIVER WITH 8-BIT PARITY GENERATOR/ CHECKER, THREE-STATE OUTPUTS, TTL COMPATIBLE
微电路 数字 ADVANCECD CMOS 八进制双向收发器 带8位奇偶校验发生器/检测器 三态输出 TTL兼容
1993-04-20
现行
MIL DSCC 5962-93141A
MICROCIRCUITS, DIGITAL, ADVANCED CMOS, 9-BIT LATCHABLE TRANSCEIVER WITH PARITY GENERATOR/CHECKER, WITH NONINVERTING THREE-STATE OUTPUTS, TTL COMPATIBLE, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-93141)
微电路、数字、高级CMOS、带奇偶校验发生器/校验器的9位可锁存收发器、带同相三态输出、TTL兼容、单片硅(取代DESC 5962-93141)
2007-02-01
现行
MIL DESC 5962-93141
MICROCIRCUITS, DIGITAL, ADVANCED CMOS, 9-BIT LATCHABLE TRANSCEIVER WITH PARITY GENERATOR/CHECKER, WITH NON-INVERTING THREE-STATE OUTPUTS, TTL COMPATIBLE(S/S BY DSCC 5962-93141A)
微电路 数字 高级CMOS 带奇偶校验发生器/检测器的9位可锁存收发器 带非反相三态输出 TTL兼容(由DSCC 5962-93141A提供S/S)
1993-04-16
现行
MIL DSCC 5962-96746A
MICROCIRCUIT, DIGITAL, ADVANCED BIPOLAR CMOS, 8-BIT TO 9-BIT PARITY BUS TRANSCEIVER WITH THREE-STATE PUTPUTS, TTL COMPATIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-96746)
微电路、数字、高级双极CMOS、带三态输出的8位到9位奇偶校验总线收发器、TTL兼容输入、单片硅(取代DESC 5962-96746)
2003-01-24
现行
MIL DESC 5962-89663
MICROCIRCUIT, DIGITAL, BIPOLAR, ADVANCED SCHOTTKY TTL, 9 BIT PARITY GENERATORS/CHECKER WITH BUS DRIVER PARAITY I/O PORT, MONOLTHIC SILICON
微电路 数字 双极 高级肖特基TTL 9位奇偶校验发生器/检测器 带总线驱动器并行I/O端口 单晶硅
1989-05-11