ГОСТ 24613.0-81-光电集成微电路和光耦电气参数测量的一般要求-国家数字标准馆

现行 ГОСТ 24613.0-81

到馆阅读

收藏跟踪

购买正版

Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Общие положения при измерении электрических параметров 光电集成微电路和光耦电气参数测量的一般要求

实施日期： 1982-01-01

本标准适用于光电子集成电路和光电耦合器。
   标准包括在对光电集成电路和光耦合器的电参数的测量方法的标准状态的复杂性和建立用于这个复合体的标准一般规定

Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары.
 Стандарт входит в комплекс государственных стандартов на методы измерения электрических параметров оптоэлектронных интегральных микросхем и оптопар и устанавливает общие положения для стандартов этого комплекса

分类信息

发布单位或类别：俄罗斯-俄罗斯国家标准

CCS分类： J00/09机械 - 机械综合

ICS分类： 31.200电子学 - 集成电路、微电子学

关联关系

研制信息

起草单位： НИИ "Сапфир"

相似标准/计划/法规

现行

GOST 24613.2-1981

Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения тока утечки
光电集成微电路和光耦测量电流的方法

现行

GOST 24613.3-1981

Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения входного напряжения
光电集成微电路和光耦测量输入电压的方法