IEC 60748-20-1:1994-半导体器件 - 集成电路 - 第20部分:薄膜集成电路和混合薄膜集成电路的通用规范 - 第1部分:内部目视检查的要求-国家数字标准馆

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Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 20: Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits - Section 1: Requirements for internal visual examination 半导体器件 - 集成电路 - 第20部分:薄膜集成电路和混合薄膜集成电路的通用规范 - 第1部分:内部目视检查的要求

发布日期： 1994-03-01

这些检查的目的是检查内部
薄膜和混合材料的材料、结构和工艺
集成电路（F和HFIC）。
这些检查通常在攻丝或切割前进行
封装以检测和消除带有内部接口的F和HFIC
在正常应用中可能导致设备故障的缺陷。
其他验收标准可与买方商定，或
分别是供应商。

The purpose of these examinations is to check the internal
materials, construction and workmanship of film and hybrid
integrated circuits (F and HFICs).
These examinations will normally be used prior to tapping or
encapsulation to detect and eliminate the F and HFICs with internal
defects that could lead to device failure in normal application.
Other acceptance criteria may be agreed upon with the purchaser or
supplier, respectively.

分类信息

发布单位或类别：国际组织-国际电工委员会

ICS分类： 31.200电子学 - 集成电路、微电子学

关联关系

研制信息

归口单位： TC 47/SC 47A

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