现行

GB/T 15649-1995

半导体激光二极管空白详细规范
Blank detail specification for semiconductor laser diodes

1995-07-24

现行

SJ 2658-1986

半导体红外发光二极管测试方法
Method of measurement for semiconductor infrared diodes

1986-01-21

现行

GOST 18986.10-1974

Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности
半导体二极管 电感测量方法

现行

GOST 18986.4-1973

Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости
半导体二极管 测量电容的方法

现行

JIS C 5943-2010

Measuring methods of laser diodes used for recording and playback
记录和回放用激光二极管的测量方法

2010-01-01

现行

JIS C 5941-1997

Measuring methods of laser diodes for fiber optic transmission
光纤传输用激光二极管的测量方法

1997-01-01

现行

SJ/T 11394-2009

半导体发光二极管测试方法
Measure methods of semiconductor light emitting diodes

2009-11-17

现行

SJ 20788-2000

半导体二极管热阻抗测试方法
Measurment method for thermal impedance of semiconductor diodes

2000-10-20

现行

GOST 18986.24-1983

Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения
半导体二极管 击穿电压测量方法

现行

GOST 18986.5-1973

Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения
半导体二极管 测量过渡时间的方法

现行

GOST 18986.7-1973

Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда
半导体二极管 寿命测量方法

现行

GOST 18986.6-1973

Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления
半导体二极管 测量回收费用的方法

现行

GOST 18986.12-1974

Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода
半导体隧道二极管 测量本征二极管负电导的方法

现行

JIS C 5947-2005

Measuring methods of laser diode modules for optical fiber amplifier
光纤放大器用激光二极管组件的测量方法

2005-01-01

现行

BS ISO 17915-2018

Optics and photonics. Measurement method of semiconductor lasers for sensing
光学和光子学 传感用半导体激光器的测量方法

2018-05-31

现行

ISO 17915-2018

Optics and photonics — Measurement method of semiconductor lasers for sensing
光学和光子学 - 用于感测的半导体激光器的测量方法

2018-05-25

现行

SJ 20957-2006

大功率半导体激光二级管阵列通用规范
General specification for large power semiconductor laser diode array

2006-08-07

现行

SJ 50033/101-1995

GJ 1325型半导体激光二极管组件详细规范
Detail specification for semiconductor laser diode modules for type GJ1325

1996-06-14

现行

GOST 18986.8-1973

Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления
半导体二极管 逆向恢复时间测量方法

现行

GOST 18986.14-1985

Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений
半导体二极管 差分和斜率电阻测量方法