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KS X ISO/IEC 10373-5-2018
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ID 카드 — 시험방법 — 제5부: 광 메모리 카드
身份证 - 测试方法 - 第5部分:光学存储卡
该标准根据ISO/IEC7810给出的定义,定义了测试ID卡特性的测试方法。每种测试方法都相互引用一个或多个基本标准文档,这些文档可以是ISO/IEC7810或多个补充标准文档,它们定义了适用于ID卡应用的信息存储技术。
이 표준은 ISO/IEC 7810에 주어진 정의에 따라서, ID 카드의 특성 시험을 위한 시험방법들을 정의한 다. 각 시험방법은 하나 이상의 기본적인 표준 문서를 상호-참조하며, 이러한 문서는 ISO/IEC 7810 이나 다수의 보충 표준 문서일 수 있으며, 그 문서들은 ID 카드의 응용에 적용된 정보 저장 기술을 정의한다.
【到馆阅览须知】
国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号,可接待到馆读者,为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
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开放时间: 每周一至周五8:30-17:00(节假日不开放)
地 址: 北京市海淀区知春路4号
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