现行

GB/T 6798-1996

半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
Semiconductor integrated circuits--General principles of measuring methods of voltage comparators

1996-07-09

现行

GB/T 4377-2018

半导体集成电路 电压调整器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of voltage regulators

2018-03-15

现行

SJ 50597/23-1994

半导体集成电路 ＪＪ７１０型电压比较器详细规范
Semiconductor integrated circuits--Detail specification for type JJ710 voltage comparator

1994-09-30

现行

GOST 23089.1-1983

Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента усиления операционных усилителей и компараторов напряжения
集成电路 测量运算放大器和电压比较器增益的方法

现行

SJ/T 10076-1991

半导体集成电路CJ710型电压比较器
Detail specification for electronic components--Semiconductor integrated circuits--CJ710 Voltage comparator

1991-04-08

现行

GOST 23089.3-1983

Микросхемы интегральные. Методы измерения напряжения и э. д. с. cмещения нуля операционных усилителей и компараторов напряжения
集成电路 测量运算放大器和电压比较器零偏移电压和电动势的方法

现行

GOST 23089.5-1983

Микросхемы интегральные. Метод измерения тока потребления и потребляемой мощности операционных усилителей и компараторов напряжения
集成电路 测量运算放大器和电压比较器消耗电流和功率的方法

现行

GB/T 35007-2018

半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry

2018-03-15

现行

GB/T 42838-2023

半导体集成电路 霍尔电路测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit

2023-08-06

现行

GOST 23089.11-1983

Микросхемы интегральные. Методы измерения коэффициента ослабления синфазных входных напряжений операционных усилителей и компараторов напряжения
集成电路 测量运算放大器和电压比较器输入共模电压抑制比的方法

现行

GOST 23089.0-1978

Микросхемы интегральные. Общие требования при измерении электрических параметров операционных усилителей и компараторов напряжения
集成电路 测量运算放大器和电压比较器电气参数的一般要求

现行

GB/T 14028-2018

半导体集成电路 模拟开关测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch

2018-03-15

现行

GB/T 35006-2018

半导体集成电路 电平转换器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter

2018-03-15

现行

GB/T 36477-2018

半导体集成电路 快闪存储器测试方法
Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory

2018-06-07

现行

GB/T 42970-2023

半导体集成电路 视频编解码电路测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring methods of video encoder and decoder circuits

2023-09-07

现行

GB/T 14030-1992

半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of timer circuits for semiconductor integrated circuits

1992-12-17

现行

SJ/T 11702-2018

半导体集成电路 串行外设接口测试方法
Semiconductor integrated circuits Measuring methods for serial peripheral interface

2018-02-09

现行

GOST 23089.14-1988

Микросхемы интегральные. Методы измерения времени задержки включения и выключения компараторов напряжения
集成微电路 用于测量电压比较器的开/关的延迟时间的方法

现行

GB/T 14029-1992

半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of analogue multiplier for semiconductor integrated circuits

1992-12-17

现行

GOST 28814-1990

Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров схем управления импульсными стабилизаторами напряжения
集成电路 测量脉动调压器运行电路电气参数的方法