现行

DLS-MIL-STD-750F-2012

Test Methods For Semiconductor Devices
Test Methods For Semiconductor Devices

2012-01-03

现行

KS C 6565

반도체 가속도 센서의 시험방법
半导体加速度传感器试验方法

2022-12-08

现行

SJ 20079-1992

金属氧化物半导体气敏元件试验方法
Test methods for gas sensors of metal-oxide semiconductor

1992-11-19

现行

BS IEC 60747-14-11-2021

Semiconductor devices-Semiconductor sensors. Test method of surface acoustic wave-based integrated sensors for measuring ultraviolet, illumination and temperature
半导体器件

2021-03-12

现行

BS IEC 60747-18-1-2019

Semiconductor devices-Semiconductor bio sensors. Test method and data analysis for calibration of lens-free CMOS photonic array sensors
半导体器件

2019-06-07

现行

IEC 60747-14-10-2019

Semiconductor devices - Part 14-10: Semiconductor sensors - Performance evaluation methods for wearable glucose sensors
半导体器件.第14-10部分:半导体传感器.可穿戴葡萄糖传感器的性能评估方法

2019-11-13

现行

KS C IEC 60747-14-10

반도체소자 — 제14-10부: 반도체센서 — 부착 삽입형 혈당 센서의 성능 평가 방법
半导体器件.第14-10部分:半导体传感器.可穿戴葡萄糖传感器的性能评估方法

2022-11-22

现行

BS EN 60749-36-2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Acceleration, steady state
半导体器件 机械和气候试验方法

2003-06-19

现行

IEC 60747-14-11-2021

Semiconductor devices - Part 14-11: Semiconductor sensors - Test method of surface acoustic wave-based integrated sensors for measuring ultraviolet, illumination and temperature
半导体器件.第14-11部分:半导体传感器.测量紫外线、照明和温度的基于表面声波的集成传感器的试验方法

2021-03-03

现行

IEC 60747-18-1-2019

Semiconductor devices - Part 18-1: Semiconductor bio sensors - Test method and data analysis for calibration of lens-free CMOS photonic array sensors
半导体器件第18-1部分:半导体生物传感器无透镜CMOS光子阵列传感器校准的试验方法和数据分析

2019-05-20

现行

GOST R 57394-2017

Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность
集成电路和半导体器件 非故障运行加速测试方法

现行

KS C 6563(2021 Confirm)

반도체 압력 센서 소자의 주요 측정 방법
半导体压力传感器元件的主要测量方法

1996-12-30

现行

KS C 6563(2016 Confirm)

반도체 압력 센서 소자의 주요 측정 방법
主要测量方法的半导体压力传感器元件

1996-12-30

现行

GB/T 15653-1995

金属氧化物半导体气敏元件测试方法
Measuring methods for gas sensors of metal-oxide semiconductor

1995-07-24

现行

GOST R 8.825-2013

Государственная система обеспечения единства измерений. Датчики интеллектуальные и системы измерительные интеллектуальные. Методы ускоренных испытаний
确保测量一致性的状态系统 智能传感器和智能测量系统 加速试验方法

现行

IEC 60749-36-2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state
半导体器件机械和气候试验方法第36部分:加速稳态

2003-02-13

现行

BS EN 60749-33-2004

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Accelerated moisture resistance. Unbiased autoclave
半导体器件 机械和气候试验方法

2004-06-22

现行

BS EN 60749-24-2004

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST
半导体器件 机械和气候试验方法

2004-06-24

现行

UNE-EN 60749-36-2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 36: Acceleration, steady state
半导体器件机械和气候试验方法第36部分:稳态加速度

2004-03-18

现行

IEC 60747-18-4-2023

Semiconductor devices - Part 18-4: Semiconductor bio sensors - Evaluation method of noise characteristics of lens-free CMOS photonic array sensors
半导体器件.第18-4部分:半导体生物传感器.无透镜CMOS光子阵列传感器噪声特性的评估方法

2023-03-16