ГОСТ 26239.1-84-半导体硅其原料为其生产和石英杂质测定方法-国家数字标准馆

现行 ГОСТ 26239.1-84

到馆阅读

收藏跟踪

购买正版

Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Метод определения примесей 半导体硅其原料为其生产和石英杂质测定方法

实施日期： 1986-01-01

此标准规定了确定的质量比的值的在半导体硅，二氧化硅，石英，硅和三氯硅烷cheturehhloristom范围杂质的化学 - 原子发射方法

Настоящий стандарт устанавливает химико-атомно-эмиссионный метод определения примесей в интервалах значений массовых долей в полупроводниковом кремнии, двуокиси кремния, кварце, четуреххлористом кремнии и трихлорсилане

分类信息

发布单位或类别：俄罗斯-俄罗斯国家标准

CCS分类： H10/19冶金 - 金属化学分析方法

ICS分类： 29.045电气工程 - 半导体材料

关联关系

研制信息

起草单位： Минцветмет СССР

相似标准/计划/法规

GOST 26239.0-1984

Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Общие требования к методам анализа
半导体硅其原料为其生产和石英分析方法的一般要求

GOST 26239.2-1984

Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Методы определения бора
半导体selicon 其生产原料和石英硼测定方法

GOST 26239.3-1984

Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Методы определения фосфора
半导体selicon 其生产原料和石英磷测定方法

GOST 26239.8-1984

Кремний полупроводниковый и исходные продукты для его получения. Метод определения дихлорсилана, трихлорсилана и тетрахлорида кремния
半导体硅及原材料为其生产二氯硅烷三氯硅烷和四氯化硅测定方法

《国家标准化发展纲要》提出建设国家数字标准馆，推动标准化工作向数字化、网络化、智能化转型。中国标准化研究院正在全力推进国家数字标准馆建设，力争在2026年底建成“一个中心”和“一个平台”，即全球领先的标准数据资源中心，涵盖标准全生命周期的数字化、网络化、智能化研究与服务平台。

专题数据库

标准管理系统

大数据分析系统

标准智能研制系统