ГОСТ 26239.2-84-半导体selicon 其生产原料和石英硼测定方法-国家数字标准馆

现行 ГОСТ 26239.2-84

到馆阅读

收藏跟踪

购买正版

Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Методы определения бора 半导体selicon 其生产原料和石英硼测定方法

实施日期： 1986-01-01

此标准规定了在二氧化硅和石英，四氯化硅和三氯硅烷的半导体硅判定硼的化学 - 原子发射方法，以及用于在一个技术硅确定硼的原子发射方法

Настоящий стандарт устанавливает химико-атомно-эмиссионный метод определения бора в полупроводниковом кремнии, в двуокиси кремния и кварце, в четыреххлористом кремнии и трихлорсилане и атомно-эмиссионный метод определения бора в техническом кремнии

分类信息

发布单位或类别：俄罗斯-俄罗斯国家标准

CCS分类： Q35建材 - 陶瓷、玻璃 - 石英玻璃

ICS分类： 29.045电气工程 - 半导体材料

关联关系

研制信息

起草单位： Минцветмет СССР

相似标准/计划/法规

现行

GOST 26239.3-1984

Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Методы определения фосфора
半导体selicon 其生产原料和石英磷测定方法

现行

GOST 26239.1-1984

Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Метод определения примесей
半导体硅其原料为其生产和石英杂质测定方法

现行

GOST 26239.0-1984

Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Общие требования к методам анализа
半导体硅其原料为其生产和石英分析方法的一般要求