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现行 IEC 60747-14-1:2010
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Semiconductor devices - Part 14-1: Semiconductor sensors - Generic specification for sensors 半导体器件 - 第14-1部分:半导体传感器 - 传感器的通用规范
发布日期: 2010-01-21
IEC 60147-14-1:2009描述了有关传感器规范的一般条款,这些条款是本系列其他部分给出的各种类型传感器规范的基础。本标准中描述的传感器基本上由半导体材料制成,然而,本标准中的声明也适用于使用非半导体材料的传感器,例如电介质和铁电材料。与上一版相比,主要变化如下: a) 标题从“半导体传感器-一般和分类”更改为“半导体传感器-传感器通用规范”; b) 第3条分为3、4和5条; c) 增加了IEC 60747-14-5中的新术语; d) 增加了有关质量评估程序的新条款; e) 增加了参考书目; f) 增加了取样程序的新附件。
IEC 60147-14-1:2009 describes general items concerning the specifications for sensors, which are the basis for specifications given in other parts of this series for various types of sensors. Sensors described in this standard are basically made of semiconductor materials, however, the statements made in this standard are also applicable to sensors using materials other than semiconductor, for example dielectric and ferroelectric materials. The major changes with regard to the previous edition are as follows: a) Title change from "Semiconductor sensors - General and classification" to "Semiconductor sensors - Generic specification for sensors"; b) Clause 3 has been divided into three Clauses 3, 4 and 5; c) Added new terms from IEC 60747-14-5; d) Added a new Clause relating to Quality assessment procedures; e) Added a Bibliography; f) Added a new Annex for the sampling procedure.
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归口单位: TC 47/SC 47E
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