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高纯钨化学分析方法 痕量杂质元素的测定 电感耦合等离子体质谱法
Methods for chemical analysis of the high purity tungsten—Determination of trace impurity element content—Inductively coupled plasma mass spectrometry
发布日期:
2013-10-17
实施日期:
2014-03-01
分类信息
发布单位或类别:
中国-行业标准-有色金属
CCS分类:
H63冶金 - 有色金属及其合金产品 - 稀有高熔点金属及其合金
ICS分类:
77.120.99有色金属 - 其他有色金属及其合金
关联关系
研制信息
归口单位:
全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)
起草单位:
北京有色金属研究总院、
金川新材料科技股份有限公司、
东方电气集团峨嵋半导体材料有限公司
起草人:
张殿凯、
李艳芬、
刘英、
孙泽明、
童坚、
臧慕文、
张江峰、
邱平、
文英
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