首页 馆藏资源 舆情信息 标准服务 科研活动 关于我们
现行 MIL DESC 5962-96638 Notice B-Revision
到馆提醒
收藏跟踪
购买正版
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED CMOS, 8 INPUT NOR/OR GATE, MONOLITHIC SILICON 数字微电路 辐射硬化CMOS 8输入NOR/或栅极 单片硅
发布日期: 1997-08-04
分类信息
发布单位或类别: 美国-美国军事规范和标准
关联关系
研制信息
相似标准/计划/法规
现行
MIL DESC 5962-96638
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED CMOS, 8 INPUT NOR/OR GATE, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 抗辐射CMOS 8输入或非门 单片硅
1995-12-15
现行
MIL DESC 5962-96638 Notice A-Revision
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED CMOS, 8 INPUT NOR/OR GATE, MONOLITHIC SILICON
数字微电路 辐射硬化CMOS 8输入NOR/或栅极 单片硅
1997-02-28
现行
MIL DSCC 5962-98630
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, TRIPLE 3-INPUT NOR GATE, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 抗辐射 先进的CMOS 三个3输入或非门 单片硅
1999-04-20
现行
MIL DESC 5962-96610 Notice B-Revision
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED CMOS, 8-INPUT NAND/AND GATE, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 辐射硬化CMOS 8输入NAND/和栅极 单片硅
1997-07-25
现行
MIL DESC 5962-96610 Notice A-Revision
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED CMOS, 8-INPUT NAND/AND GATE, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 辐射硬化CMOS 8输入NAND/和栅极 单片硅
1997-02-24
现行
MIL DESC 5962-96610
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED CMOS, 8-INPUT NAND/AND GATE, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 抗辐射CMOS 8输入NAND/与门 单片硅
1995-12-14
现行
MIL DESC 5962-96650 Notice A-Revision
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED CMOS, MULTIFUNCTION EXPANDABLE 8 INPUT GATE, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 辐射硬化CMOS 多功能可扩展8输入门 单片硅
1997-04-04
现行
MIL DSCC 5962-98631 Notice A-Revision
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, 8-INPUT NAND GATE, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 辐射硬化 高级CMOS 8输入NAND门 单片硅
1999-09-13
现行
MIL DSCC 5962-98631
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, 8-INPUT NAND GATE, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 抗辐射 先进的CMOS 8输入与非门 单片硅
1999-04-20
现行
MIL DESC 5962-96650
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED CMOS, MULTIFUNCTION EXPANDABLE 8 INPUT GATE, MONOLITHIC SILICON
微电路、数字、抗辐射CMOS、多功能可扩展8输入门、单片硅
1995-12-06
现行
MIL DSCC 5962-96514D
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, QUAD 2-INPUT NOR GATE, MONOLITHIC SILICON(SUPERSEDING DSCC 5962-96514C)
微电路 数字 辐射硬化 高级CMOS 四路2输入NOR门 单片硅(取代DSCC 5962-96514C)
2007-02-20
现行
MIL DSCC 5962-96528B
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, TRIPLE 3-INPUT NOR GATE, MONOLITHIC SILICON(SUPERSEDING DESC 5962-96528)
微电路 数字 抗辐射 先进的CMOS 三个3输入或非门 单片硅(取代DESC 5962-96528)
2005-08-24
现行
MIL DSCC 5962-95826C
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, CMOS, NOR GATE, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-95826)
单片硅CMOS或非门抗辐射数字微电路(取代DESC 5962-95826)
2003-11-18
现行
MIL DSCC 5962-96597B
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, DUAL 4-INPUT NOR GATE, TTL COMPATIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON(SUPERSEDING DESC 5962-96597)
微电路 数字 辐射硬化 高级CMOS 双4输入NOR门 TTL兼容输入 单片硅(取代DESC 5962-96597)
2007-01-22
现行
MIL DSCC 5962-96515B
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, QUADRUPLE 2-INPUT NOR GATE, TTL COMPATIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-96515)
微电路 数字 抗辐射 高级CMOS 四倍2输入或非门 TTL兼容输入 单片硅(取代DESC 5962-96515)
2001-06-11
现行
MIL DSCC 5962-96529B
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, TRIPLE 3-INPUT NOR GATE, TTL COMPATIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON(SUPERSEDING DESC 5962-96529)
微电路 数字 抗辐射 高级CMOS 三个3输入或非门 TTL兼容输入 单片硅(取代DESC 5962-96529)
2005-10-21
现行
MIL DSCC 5962-98629 Notice A-Revision
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, DUAL 4-INPUT AND GATE, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 辐射硬化 高级CMOS 双4输入和栅极 单片硅
1999-09-13
现行
MIL DSCC 5962-98624 Notice A-Revision
MICROCIRCUITS, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, QUAD 2 INPUT OR GATE, MONOLITHIC SILICON
微型电路 数字 辐射硬化 高级CMOS quad2输入或栅极 单片硅
1999-04-13
现行
MIL DSCC 5962-98622 Notice A-Revision
MICROCIRCUITS, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, TRIPLE 3-INPUT AND GATE, MONOLITHIC SILICON
微型电路 数字 辐射硬化 高级CMOS 三重3输入和栅极 单片硅
1999-04-13
现行
MIL DSCC 5962-98629
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, DUAL 4-INPUT AND GATE, MONOLITHIC SILICON
微电路、数字、抗辐射、高级CMOS、双4输入与门、单片硅
1999-04-20