BS 04/30126443 DC-IEC 60749-38第1版半导体器件机械和气候试验方法第38部分电子元件的软错误率测试-国家数字标准馆

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IEC 60749-38 ED.1. Semiconductor devices mechanical and climatic test methods. Part 38. Soft error rate testing of electronic components IEC 60749-38第1版半导体器件机械和气候试验方法第38部分电子元件的软错误率测试

发布日期： 2004-12-08

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