该标准规定了包括在参考用于研究和开发该组的发展前景的定义的术语（R＆D TOR）的集成电路的质量的主要指标的范围内，将来的需求，以及该范围内的质量指标的国家标准，包括在发达国家和修订产品标准，为开发工作范围（ToR OCD），技术规范（TU），技术水平和产品质量卡职权范围（KU）

Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества интегральных микросхем, включаемых в технические задания на научно-исследовательские работы (ТЗ на НИР) по определению перспектив развития этой группы, государственный стандарт с перспективными требованиями, а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые и пересматриваемые стандарты на продукцию, технические задания на опытно-конструкторские работы (ТЗ на ОКР), технические условия (ТУ), карты технического уровня и качества продукции (КУ)