YS/T 37.2-2018-高纯二氧化锗化学分析方法钼蓝分光光度法测定硅量-国家数字标准馆

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高纯二氧化锗化学分析方法钼蓝分光光度法测定硅量 Methods for chemical analysis of high pure germanium dioxide-Determination of silicon content by molybdenum blue spectrophotomertic method

发布日期： 2018-10-22

实施日期： 2019-04-01

                本部分规定了高纯二氧化锗中硅含量的测定方法

分类信息

发布单位或类别：中国-行业标准-有色金属

CCS分类： H17冶金 - 金属化学分析方法 - 半金属及半导体材料分析方法

ICS分类： 77.040.30金属材料试验 - 金属材料化学分析

关联关系

研制信息

归口单位：全国有色金属标准化技术委员会

起草单位：国标(北京)检验认证有限公司、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、中锗科技有限公司、广东先导稀材股份有限公司

起草人：刘红、李爱嫦、曹振华、李凤娥、刘英、赵春华、普世坤、吴王昌、袁承乾、沈海枝、吴杰

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