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现行 KS C IEC 60793-1-40-2003(2023)
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광섬유 제1-40부 : 감쇠의 측정방법 및 시험절차 光纤第1-40部分:衰减的测量方法和测试程序
发布日期: 2003-10-31
该规格规定了对光纤衰减测量的一定要求,以帮助商业目的光纤或光缆的精密检测。对于衰减测量,有以下4种方法:方法A:截断-方法B:插入损耗-方法C:后向散射-方法D:光谱衰减建模方法A,B,C适用于所有后续光纤类别的衰减测量。A型多模光纤-B型单模光纤方法C后向散射法涵盖了不连续点的位置、损耗及特征。方法D只适用于B型光纤。三种测量方法和建模方法的一般信息为1~8。表示,属于每种方法的信息显示在各自的附件A、B、C、D中。
이 규격은 상업 목적의 광섬유 혹은 광케이블의 정 밀 검사를 돕기 위하여, 광섬유의 감쇠 측정에 대한 일정한 요구 사항을 규정한다. 감쇠 측정에 대한 다음의 4가지 방법이 있다. -방법 A:컷백 -방법 B:삽입 손실 -방법 C:후방 산란 -방법 D:스펙트럼 감쇠 모델링 방법 A, B, C는 다음에 오는 모든 광섬유 범주의 감쇠 측정에 적용된다. -A형 다중 모드 광섬유 -B형 단일 모드 광섬유 방법 C 후방 산란법은 불연속점의 위치, 손실 및 특 징을 망라한다. 방법 D는 B형 광섬유에만 적용된다. 세 측정법과 모델링 방법의 일반적 정보는 1.∼8. 에 나타내고, 각각의 방법에 속하는 정보는 각각의 부속서 A, B, C, D에 나타낸다.
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