本标准适用于带电粒子加速器的基础上的缺陷， - 加速的电子和轫致辐射的源在控制产品和半成品检测缺陷

Настоящий стандарт распространяется на дефектоскопы на базе ускорителей заряженных частиц - источников ускоренных электронов и тормозного излучения, предназначенные для обнаружения дефектов при контроле изделий и полуфабрикатов