首页 馆藏资源 舆情信息 标准服务 科研活动 关于我们
现行 MIL DSCC 5962-96644C
到馆提醒
收藏跟踪
购买正版
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED CMOS, DUAL 2-INPUT NAND BUFFER/DRIVER, MONOLITHIC SILICON 微电路、数字、抗辐射CMOS、双2输入NAND缓冲/驱动器、单片硅
发布日期: 2003-07-02
分类信息
发布单位或类别: 美国-美国军事规范和标准
关联关系
研制信息
相似标准/计划/法规
现行
MIL DESC 5962-95778 Notice A-Revision
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, HIGH SPEED CMOS, DUAL 4-INPUT NAND GATE, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 辐射硬化 高速CMOS 双4输入NAND门 单片硅
1998-06-12
现行
MIL DESC 5962-95778
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, HIGH SPEED CMOS, DUAL 4-INPUT NAND GATE, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 抗辐射 高速CMOS 双4输入与非门 单片硅
1995-09-14
现行
MIL DESC 5962-96610 Notice B-Revision
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED CMOS, 8-INPUT NAND/AND GATE, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 辐射硬化CMOS 8输入NAND/和栅极 单片硅
1997-07-25
现行
MIL DESC 5962-96610 Notice A-Revision
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED CMOS, 8-INPUT NAND/AND GATE, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 辐射硬化CMOS 8输入NAND/和栅极 单片硅
1997-02-24
现行
MIL DESC 5962-96610
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED CMOS, 8-INPUT NAND/AND GATE, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 抗辐射CMOS 8输入NAND/与门 单片硅
1995-12-14
现行
MIL DSCC 5962-98631 Notice A-Revision
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, 8-INPUT NAND GATE, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 辐射硬化 高级CMOS 8输入NAND门 单片硅
1999-09-13
现行
MIL DSCC 5962-98631
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, 8-INPUT NAND GATE, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 抗辐射 先进的CMOS 8输入与非门 单片硅
1999-04-20
现行
MIL DSCC 5962-98625
MICROCIRCUITS, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, QUAD 2-INPUT NAND SCHMITT TRIGGER, MONOLITHIC SILICON
微电路、数字、抗辐射、高级CMOS、四路2输入NAND施密特触发器、单片硅
1998-11-11
现行
MIL DESC 5962-95636
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, QUAD 2-INPUT NAND GATE, TTL COMPATIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON
微电路、数字、抗辐射、高级CMOS、四路2输入与非门、TTL兼容输入、单片硅
1995-12-27
现行
MIL DESC 5962-95636 Notice A-Revision
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, QUAD 2-INPUT NAND GATE, TTL COMPATIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 辐射硬化 高级CMOS 四路2输入NAND门 TTL兼容输入 单片硅
1997-10-22
现行
MIL DESC 5962-95636 Notice B-Revision
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, QUAD 2-INPUT NAND GATE, TTL COMPATIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 辐射硬化 高级CMOS 四路2输入NAND门 TTL兼容输入 单片硅
1998-10-16
现行
MIL DESC 5962-96639 Notice A-Revision
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED CMOS, DUAL 2 WIDE 2 INPUT AND-OR-INVERT GATE MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 辐射硬化CMOS 双2宽2输入和反向门单片硅
1998-01-16
现行
MIL DESC 5962-96639
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED CMOS, DUAL 2 WIDE 2 INPUT AND-OR-INVERT GATE MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 抗辐射CMOS 双2宽2输入和/或反转门单片硅
1995-12-19
现行
MIL DSCC 5962-95653C
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, DUAL 4-INPUT NAND GATE, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-95653)
微电路 数字 抗辐射 高级CMOS 双4输入与非门 单片硅(取代DESC 5962-95653)
2000-08-01
现行
MIL DSCC 5962-96526C
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, DUAL 4-INPUT NAND GATE, MONOLITHIC SILICON(SUPERSEDING DESC 5962-96526)
微电路 数字 抗辐射 高级CMOS 双4输入与非门 单片硅(取代DESC 5962-96526)
2005-08-24
现行
MIL DSCC 5962-98629 Notice A-Revision
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, DUAL 4-INPUT AND GATE, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 辐射硬化 高级CMOS 双4输入和栅极 单片硅
1999-09-13
现行
MIL DSCC 5962-98629
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, DUAL 4-INPUT AND GATE, MONOLITHIC SILICON
微电路、数字、抗辐射、高级CMOS、双4输入与门、单片硅
1999-04-20
现行
MIL DSCC 5962-95659C
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, DUAL 4-INPUT NAND GATE, TTL COMPATIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON (SUPERSEDING DESC 5962-95659)
微电路 数字 抗辐射 高级CMOS 双4输入与非门 TTL兼容输入 单片硅(取代DESC 5962-95659)
2000-08-10
现行
MIL DSCC 5962-96527B
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, DUAL 4-INPUT NAND GATE, TTL COMPATIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON(SUPERSEDING DESC 5962-96527)
微电路 数字 抗辐射 高级CMOS 双4输入与非门 TTL兼容输入 单片硅(取代DESC 5962-96527)
2005-08-24
现行
MIL DESC 5962-95777 Notice A-Revision
MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, HIGH SPEED CMOS, TRIPLE 3-INPUT NAND GATE, MONOLITHIC SILICON
微电路 数字 辐射硬化 高速CMOS 三输入NAND门 单片硅
1998-06-12