GB/T 43063-2023-集成电路 CMOS图像传感器测试方法-国家数字标准馆

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集成电路 CMOS图像传感器测试方法 Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors

发布日期： 2023-09-07

实施日期： 2024-01-01

分类信息

发布单位或类别：中国-国家标准

CCS分类： L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件

ICS分类： 31.200电子学 - 集成电路、微电子学

关联关系

研制信息

归口单位：全国集成电路标准化技术委员会

起草单位：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、重庆光电技术研究所、天津大学、长春精测光电技术有限公司、中国电子技术标准化研究院、深圳佑驾创新科技有限公司

起草人：李俊霖、张涛、兰太吉、杨永强、赵宇、聂真威、韩冰、金辉、马洪涛、卢岩、徐江涛、刘昌举、唐延甫、聂凯明、李金、高志远、马悦、刘国清、王琪、刘秀娟

相似标准/计划/法规

IEEE Recommended Practice for Latchup Test Methods for CMOS and BiCMOS Integrated- Circuit Process Characterization
IEEE CMOS和BiCMOS集成电路工艺特性闭锁试验方法推荐规程

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