Испытания на воздействие внешних факторов. Часть 2-82. Испытания. Испытание XW с индексом 1: Методы испытания усов в электронных и электротехнических компонентах
环境试验 第2-82部分 测试 测试XW1:电子和电气部件的晶须测试方法

환경시험 — 제2-82부: 시험 — 시험 Xw1: 전자실장용 부품에 대한 휘스커 시험방법
环境试验.第2-82部分:试验.试验Xw1:电子组件用元件和零件的晶须试验方法

2021-06-16

Environmental testing - Part 2-82: Tests - Test Xw1: Whisker test methods for components and parts used in electronic assemblies
环境试验.第2-82部分:试验.试验XW1:电子组件用元器件的晶须试验方法

2019-05-14

Environmental testing -- Part 2-82: Tests -- Test XW1: Whisker test methods for electronic and electric components (Foreign Standard)
环境试验第2-82部分:试验试验XW1:电子和电气元件的晶须试验方法（国外标准）

2009-01-01

Environmental testing-Tests. Test Xw1: Whisker test methods for components and parts used in electronic assemblies
环境测试

2019-07-12

IEC 60068-2-82. Environmental testing. Part 2-82. Test. Test Tx. Whisker test methods for electronic and electric components
IEC 60068-2-82 环境测试 第2-82部分 测验试验Tx.电子和电气部件的晶须试验方法

2005-05-04

Environmental testing -- Part 2-82: Tests - Test Tx: Whisker test methods for electronic and electric components
环境试验第2-82部分:试验Tx:电子和电气元件的晶须试验方法

2007-11-21

Environmental testing - Part 3-82: Supporting documentation and guidance - Confirmation of the performance of whisker test method
环境试验.第3-82部分:支持文件和指南.须晶试验方法性能的确认

2024-08-15

환경 시험－제2-82부：시험－시험 Tx：전기 및 전자 부품에 대한 휘스커 시험방법
环境试验第2-82部分:试验Tx:电子和电气元件晶须试验方法

2012-11-19