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Optics and photonics — General optical test methods — Measurement of relative irradiance in the image field 光学和光子学.一般光学试验方法.图像场中相对辐照度的测量
发布日期: 2019-05-14
本文件规定了用于测量图像场中相对辐照度的一般光学测试方法。 该文献适用于从λ=100nm到λ=1 μ m的光谱区域中的光学成像系统。理论反射和与计算的比较仅适用于光学系统。本文件适用于旋转不变和旋转可变系统;例如,包括变形系统。 还包括伸缩系统。本文档的标题是指图像场中的相对辐照度,但是本文档也适用于相对辐射功率的确定。 注:对于望远镜系统,只陈述辐射功率是合适的;对于大多数成像系统,从辐射功率到辐照度的转换是容易的。就测量而言,本文件也适用于电光系统。 所描述的两种方法在遮蔽眩光的影响方面尤其不同。
This document specifies general optical test methods for the measurement of the relative irradiance in the image field. This document is applicable to optical imaging systems in the optical spectral region from λ = 100 nm to λ = 1 μm. Theoretical reflections and the comparison with the calculation apply only to optical systems. This document is applicable to rotationally invariant and rotationally variant systems; anamorphic systems, for example, are included. Telescopic systems are also included. The title of this document refers to the relative irradiance in the image field, but this document is also applicable to determination of the relative radiant power. NOTE For telescopic systems, it is suitable to state only the radiant power; for most imaging systems, the conversion from radiant power to irradiance is easy. As far as measurements are concerned, this document is also applicable to electro-optical systems. The two methods described differ particularly in the influence of veiling glare.
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归口单位: ISO/TC 172/SC 1
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