ETSI TS 102 841包含“新”的概要测试规范（PTS）和测试用例库（TCL） DECT一代；第3部分:扩展宽带语音”（TS 102 527-3[14]）。本文件涵盖 便携式（PT）和固定式（FT）无线电终端。测试用例库（TCL）还涵盖了“DECT新一代；第1部分:宽带语音”的一些测试用例 （TS 102 527-1[13]），以及“通用访问配置文件”（EN 300 444[12]）。这样做是因为这样的测试用例 对于新一代DECT第3部分（见TS 102 527-3[14]）而言是强制性的或特别相关的，且不包括在 现有间隙测试规范。由于DECT配置文件的兼容性不断提高，所有新一代DECT第3部分设备（见TS 102 527-3[14]） 还需要符合“DECT新一代”； 第1部分:宽带语音”（TS 102 527-1[13]），以及 使用“通用访问配置文件”（GAP，EN 300 444[12]）。本文件附件D规定了 对间隙测试规范中可选要求和测试的间隙测试用例的修改（见注释），但 通过支持新一代DECT第3部分中相应的GAP功能，这一点成为强制性的。

ETSI TS 102 841 contains the Profile Test Specification (PTS) and the Test Case Library (TCL) for "New Generation DECT; Part 3: Extended wideband speech" (TS 102 527-3 [14]). The present document covers both the Portable (PT) and the Fixed (FT) Radio terminations.The Test Case Library (TCL) covers also some test cases for "DECT New Generation; Part 1: Wideband speech" (TS 102 527-1 [13]) and for the "Generic Access Profile" (EN 300 444 [12]). This is done because such test cases are mandatory or especially relevant for New Generation DECT part 3 (see TS 102 527-3 [14]), and are not covered by existing GAP test specifications.Due to the ascending compatibility of DECT profiles, all New Generation DECT part 3 devices (see TS 102 527-3 [14]) are required to be also compliant with "DECT New Generation; Part 1: Wideband speech" (TS 102 527-1 [13]) and with the "Generic Access Profile" (GAP, EN 300 444 [12]). Annex D of the present document specifies the modifications to GAP test cases for requirements and tests that are optional in GAP test specifications (see note), but that become mandatory by the support of the corresponding GAP features in New Generation DECT Part 3.