GB/T 27788-2020-微束分析扫描电镜图像放大倍率校准导则-国家数字标准馆

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微束分析扫描电镜图像放大倍率校准导则 Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Guidelines for calibrating image magnification

发布日期： 2020-06-02

实施日期： 2021-04-01

本标准规定了使用适当的参考物质对扫描电镜(SEM) 图像的放大倍率进行校准的方法。
本标准适用于对由校准参考物质上间距大小的可用范围决定的放大倍率进行校准。
本标准不适用于专用测长型扫描电镜

分类信息

发布单位或类别：中国-国家标准

CCS分类： N32仪器、仪表 - 光学仪器 - 放大镜与显微镜

ICS分类： 37.020成像技术 - 光学设备

关联关系

研制信息

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会

起草单位：中国地质科学院矿产资源研究所、中国科学院上海硅酸盐研究所、中国人民解放军海军军医大学

起草人：陈振宇、周剑雄、李香庭、杨勇骥

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