ASTM E20-85-用光学显微镜对0.2至75μm范围内颗粒物质进行粒度分析的实施规程（1994年撤销） -国家数字标准馆

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Practice for Particle Size Analysis of Particulate Substances in the Range of 0.2 to 75 UM by Optical Microscopy (Withdrawn 1994) 用光学显微镜对0.2至75μm范围内颗粒物质进行粒度分析的实施规程（1994年撤销）

废止日期： 1994-07-15

分类信息

发布单位或类别：美国-美国材料与试验协会

ICS分类： 19.120试验 - 粒度分析、筛分

关联关系

研制信息

归口单位： E29.02

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