IEC 60747-5-4:2022-半导体器件第5-4部分:光电子器件半导体激光器-国家数字标准馆

现行 IEC 60747-5-4:2022

到馆阅读

收藏跟踪

购买正版

Semiconductor devices - Part 5-4: Optoelectronic devices - Semiconductor lasers 半导体器件第5-4部分:光电子器件半导体激光器

发布日期： 2022-04-27

IEC 60747-5-4:20 22(E)规定了半导体激光器的术语、基本额定值和特性以及测量方法。
与上一版相比，此版本包括以下重大技术变更:

与照明领域相关的术语和定义的参考文献IEC 60050-845基于IEC 60050-845:2020进行了修订；
3.3.2中发射角改为辐射角；
3.4.1中上升时间和下降时间的定义基于出版物IEC 60050-521:2002进行了修订；
在第4条中，将光谱线宽添加到表1中；
修改第4条中表1的载噪比条件。
修正了5.2.2中载噪比方程中的错误；
在5中增加了对用于载波噪声比测量的设备的注意事项。2.2;
删除第一版5.3.2中关于小信号截止频率测量方法的说明，因为在最新版本的ISO 11554中已有定义；
修订了5.4中的寿命参考文件；
5.5.3中增加了针对用于半强度宽度和1/e2强度的测量布置的注意事项；
附件A、附件B和附件C中的参考表按照ISO出版物的最新版本进行修订。

IEC 60747-5-4:2022(E) specifies the terminology, the essential ratings and characteristics as well as the measuring methods of semiconductor lasers.

This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition:
References for the terms and definitions related to the lighting area, IEC 60050-845, are revised based on IEC 60050-845:2020;
Emission angle is changed to radiation angle in 3.3.2;
Definitions of rise time and fall time in 3.4.1 are revised based on the publication IEC 60050-521:2002;
Spectral linewidth is added to Table 1 in Clause 4;
Conditions for carrier-to-noise ratio of Table 1 in Clause 4 is amended.
Error in the equation for carrier-to-noise ratio in 5.2.2 is corrected;
Precaution against the equipment used for carrier-to-noise ratio measurement is added in 5.2.2;
Explanation for the measurement method of the small signal cut-off frequency in 5.3.2 of the first edition is deleted because it has been defined in the latest version of ISO 11554;
Reference document for the lifetime in 5.4 is amended;
Precaution against the measuring arrangement used for the half-intensity width and 1/e2-intensity is added in 5.5.3;
Reference tables in Annex A, Annex B and Annex C are revised by following the latest version of ISO publications.

分类信息

发布单位或类别：国际组织-国际电工委员会

ICS分类： 31.260电子学 - 光电子学、激光设备、 31.080.01半导体分立器件 - 半导体器分立件综合

关联关系

研制信息

归口单位： TC 47/SC 47E

相似标准/计划/法规

GB/T 15651.4-2017

半导体器件分立器件第5-4部分:光电子器件半导体激光器
Semiconductor devices—Discrete devices—Part 5-4:Optoelectronic devices—Semiconductor lasers

IEC 60747-5-5-2020

Semiconductor devices - Part 5-5: Optoelectronic devices - Photocouplers
半导体器件.第5-5部分:光电子器件.光电耦合器

GB/T 15651.5-2024

半导体器件第5-5部分：光电子器件光电耦合器
Semiconductor devices—Part 5-5: Optoelectronic devices—Photocouplers

KS C IEC 60747-5

반도체 소자 — 개별 소자 —제5부: 광전소자
半导体器件分立器件第5部分:光电器件

GB/T 15651-1995

半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件
Semiconductor devices--Discrete devices and integrated circuits--Part 5:Optoelectronic devices

GOST 29283-1992

Полупроводниковые приборы. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 5. Оптоэлектронные приборы
半导体器件分立器件和集成电路光电器件

IEC 60747-5-7-2016

Semiconductor devices - Part 5-7: Optoelectronic devices - Photodiodes and phototransistors
半导体器件 - 第5-7部分:光电器件 - 光电二极管和光电晶体管

GB/T 15651.7-2024

半导体器件第5-7部分：光电子器件光电二极管和光电晶体管
Semiconductor devices—Part 5-7: Optoelectronic devices—Photodiodes and phototransistors

IEC 60747-5-6-2021

Semiconductor devices - Part 5-6: Optoelectronic devices - Light emitting diodes
半导体器件 - 第5-6部分:光电子器件 - 发光二极管

IEC 60747-5-6-2021 RLV

Semiconductor devices - Part 5-6: Optoelectronic devices - Light emitting diodes
半导体器件第5-6部分:光电子器件发光二极管

GB/T 15651.6-2023

半导体器件第5-6部分：光电子器件发光二极管
Semiconductor devices—Part 5-6: Optoelectronic devices—Light emitting diodes

KS C IEC 60747-5-1

개별 반도체 소자 및 집적 회로 —제5-1부: 광전소자 — 일반 사항
分立半导体器件和集成电路第5-1部分:光电器件总则

BS 02/211631 DC

IEC 60747-5-5. Ed.1.0. Semiconductor devices. Part 5-5: Optoelectronic devices. Photocouplers, optocouplers
IEC 60747-5-5 Ed.1.0 半导体器件第5-5部分:光电器件光电耦合器

KS C IEC 60747-5-3

개별 반도체 소자 및 집적 회로— 제5-3부: 광전 소자 — 측정 방법
分立半导体器件和集成电路 - 第5-3部分:光电器件 - 测量方法

GB/T 15651.3-2003

半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测试方法
Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods

BS 11/30252924 DC

BS EN 60747-5-6. Semiconductor devices. Discrete devices. Part 5-6. Optoelectronic devices. Light emitting diodes
英国标准EN 60747-5-6 半导体器件离散设备第5-6部分光电器件发光二极管

IEC 60747-5-8-2019

Semiconductor devices - Part 5-8: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of optoelectronic efficiencies of light emitting diodes
半导体器件第5-8部分:光电子器件发光二极管发光二极管光电效率试验方法

KS C IEC 60747-5-2

개별 반도체 소자 및 집적 회로 —제5-2부: 광전소자 — 필수 정격 및 특성
分立半导体器件和集成电路 - 第5-2部分:光电子器件 - 基本等级和特性

IEC 60747-5-13-2021

Semiconductor devices - Part 5-13: Optoelectronic devices - Hydrogen sulphide corrosion test for LED packages
半导体器件第5-13部分:光电器件LED封装的硫化氢腐蚀试验

GB/T 15651.2-2003

半导体分立器件和集成电路第5-2部分:光电子器件基本额定值和特性
Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-2:Optoelectronic devices--Essential ratings and characteristics

《国家标准化发展纲要》提出建设国家数字标准馆，推动标准化工作向数字化、网络化、智能化转型。中国标准化研究院正在全力推进国家数字标准馆建设，力争在2026年底建成“一个中心”和“一个平台”，即全球领先的标准数据资源中心，涵盖标准全生命周期的数字化、网络化、智能化研究与服务平台。

专题数据库

标准管理系统

大数据分析系统

标准智能研制系统