非易失性存储器耐久和数据保持试验方法
Test methods for endurance and data retention of non-volatile memory
发布日期：
2018-03-15
实施日期：
2018-08-01
本标准规定了非易失性存储器耐久和数据保持试验的方法。本标准适用于电可擦除可编程只读存储器（EEPROM)、快闪存储器（Flash)以及内嵌上述存储器的集成电路(以下简称器件）
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