GB/T 36655-2018-电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法-国家数字标准馆

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电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法 Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method

发布日期： 2018-09-17

实施日期： 2019-01-01

本标准规定了电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的 XRD 测试方法。本标准适用于电子封装用球形二氧化硅微粉中检测α态晶体二氧化硅含量，其他无定形二氧化硅含量的检测也可参照本标准执行。α态晶体二氧化硅含量测试范围0.5%以下半定量分析，0.5%～5%定量分析

分类信息

发布单位或类别：中国-国家标准

CCS分类： L90电子元器件与信息技术 - 电子设备与专用材料、零件、结构件 - 电子技术专用材料

ICS分类： 31.030电子学 - 电子技术专用材料

关联关系

研制信息

归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会

起草单位：国家硅材料深加工产品质量监督检验中心、江苏联瑞新材料股份有限公司、汉高华威电子有限公司

起草人：封丽娟、李冰、陈进、夏永生、曹家凯、吕福发、阮建军、王松宪

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