ГОСТ 19656.3-74-半导体UHF混频二极管中频输出阻抗的测量方法-国家数字标准馆

现行 ГОСТ 19656.3-74

到馆阅读

收藏跟踪

购买正版

Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Методы измерения выходного сопротивления на промежуточной частоте 半导体UHF混频二极管中频输出阻抗的测量方法

实施日期： 1975-07-01

                本标准适用于在所述频率范围0.3至300 GHz的半导体二极管微波混合和套，下列用于测量中频输出电阻的方法:
   比较方法;
   阻抗电桥法

Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ смесительные и устанавливает в диапазоне частот от 0,3 до 300 ГГц следующие методы измерения выходного сопротивления на промежуточной частоте:
 метод сравнения;
 метод импедансного моста

分类信息

发布单位或类别：俄罗斯-俄罗斯国家标准

CCS分类： L40/49电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件

ICS分类： 31.080.10半导体分立器件 - 二极管

关联关系

研制信息

起草单位： НИИ "Сапфир"

相似标准/计划/法规

GOST 19656.5-1974

Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные и детекторные. Методы измерения шумового отношения
半导体UHF混合器和检测器二极管输出噪声比的测量方法

GOST 19656.4-1974

Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Методы измерения потерь преобразования
半导体UHF混频二极管转换损耗的测量方法

GOST 19656.2-1974

Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Метод измерения выпрямленного тока
半导体UHF混频二极管整流电流的测量方法

GOST 19656.6-1974

Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Методы измерения нормированного коэффициента шума
半导体UHF混频二极管标准噪声系数的测量方法

GOST 19656.1-1974

Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные и детекторные. Метод измерения коэффициента стоячей волны по напряжению
半导体UHF混合器和检测器二极管电压驻波比的测量方法

《国家标准化发展纲要》提出建设国家数字标准馆，推动标准化工作向数字化、网络化、智能化转型。中国标准化研究院正在全力推进国家数字标准馆建设，力争在2026年底建成“一个中心”和“一个平台”，即全球领先的标准数据资源中心，涵盖标准全生命周期的数字化、网络化、智能化研究与服务平台。

关于我们

查新颖性

查有效性

跟踪标准

比对标准

专题数据库

标准管理系统

大数据分析系统

标准智能研制系统