EJ/T 1184-2005-贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定-国家数字标准馆

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贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定 Determination of micro silicon in depleted uranium tetrafluoride by spectrophotometric method

发布日期： 2005-04-11

实施日期： 2005-07-01

分类信息

发布单位或类别：中国-行业标准-核工业

ICS分类： 27.120.30核能工程 - 裂变物质

关联关系

研制信息

归口单位：核工业标准化研究所

起草单位：国营八一四厂

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