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集成电路 脉冲抗扰度测量 第2部分: 同步瞬态注入法 Integrated circuits—Measurement of impulse immunity—Part 2: Synchronous transient injection method
发布日期: 2024-10-26
实施日期: 2024-10-26
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文件草稿.集成电路.150 kHz至1 GHz电磁抗扰度的测量.第2部分:辐射抗扰度的测量.Tem室和宽带Tem室法(IEC 47A/748/CD:2006)
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