现行

BS ISO 10810-2019

Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Guidelines for analysis
表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南

2019-08-23

现行

GB/T 30704-2014

表面化学分析　X射线光电子能谱　分析指南
Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Guidelines for analysis

2014-06-09

现行

ISO 10810-2019

Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Guidelines for analysis
表面化学分析 - X射线光电子能谱分析指南

2019-08-22

现行

BS PD ISO/TR 18394-2016

Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy. Derivation of chemical information
表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的推导

2016-05-31

现行

ISO/TR 18394-2016

Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy — Derivation of chemical information
表面化学分析.俄歇电子光谱.化学信息的推导

2016-05-02

现行

GB/Z 32494-2016

表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的解析
Surface chemical analysis—Auger electron spectroscopy—Derivation of chemical information

2016-02-24

现行

BS ISO 18516-2006

Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy. Determination of lateral resolution
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率的测定

2006-11-30

现行

GB/T 28632-2012

表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定
Surface chemical analysis － Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy － Determination of lateral resolution

2012-07-31

现行

BS ISO 24236-2005

Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy. Repeatability and constancy of intensity scale
表面化学分析 俄歇电子能谱 强度标度的重复性和恒常性

2005-05-12

现行

BS PD ISO/TR 23173-2021

Surface chemical analysis. Electron spectroscopies. Measurement of the thickness and composition of nanoparticle coatings
表面化学分析 电子光谱 纳米颗粒涂层厚度和成分的测量

2021-07-08

现行

ISO 24236-2005

Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy — Repeatability and constancy of intensity scale
表面化学分析——俄歇电子能谱；强度标度的重复性和恒常性

2005-04-19

现行

GB/T 29558-2013

表面化学分析 俄歇电子能谱 强度标的重复性和一致性
Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy - Repeatability and constancy of intensity scale

2013-07-19

现行

ISO/TR 23173-2021

Surface chemical analysis — Electron spectroscopies — Measurement of the thickness and composition of nanoparticle coatings
纳米颗粒涂层的电子光谱分析

2021-06-25

现行

ISO 16242-2011

Surface chemical analysis — Recording and reporting data in Auger electron spectroscopy (AES)
表面化学分析——俄歇电子能谱（AES）中数据的记录和报告

2011-11-25

现行

GB/T 32565-2016

表面化学分析 俄歇电子能谱（AES）数据记录与报告的规范要求
Surface chemical analysis—Recording and reporting data in Auger electron spectroscopy (AES)

2016-02-24

现行

BS ISO 19830-2015

Surface chemical analysis. Electron spectroscopies. Minimum reporting requirements for peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy
表面化学分析 电子光谱 X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求

2015-11-30

现行

ISO 19830-2015

Surface chemical analysis — Electron spectroscopies — Minimum reporting requirements for peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy
表面化学分析 - 电子光谱 - X射线光电子能谱峰值拟合的最低报告要求

2015-11-05

现行

GB/T 41073-2021

表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求
Surface chemical analysis—Electron spectroscopies—Minimum reporting requirements for peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy

2021-12-31

现行

BS ISO 15471-2016

Surface chemical analysis. Auger electron spectroscopy. Description of selected instrumental performance parameters
表面化学分析 俄歇电子能谱 所选仪器性能参数的说明

2016-09-30

现行

KS D ISO 15471(2020 Confirm)

표면 화학 분석－오제 전자 분광법－선택한 기기 성능의 파라미터 설명
表面化学分析－俄歇电子能谱学－选定仪器性能参数的描述

2005-12-28