IEC 60444-11:2010-石英晶体元件参数的测量.第11部分:用自动网络分析仪技术和误差校正测定负载谐振频率f＜sub＞L＜/sub＞和有效负载电容C＜sub＞Leff＜/sub＞的标准方法 -国家数字标准馆

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Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 11: Standard method for the determination of the load resonance frequency f＜sub＞L＜/sub＞ and the effective load capacitance C＜sub＞Leff＜/sub＞ using automatic network analyzer techniques and error correction 石英晶体元件参数的测量.第11部分:用自动网络分析仪技术和误差校正测定负载谐振频率f＜sub＞L＜/sub＞和有效负载电容C＜sub＞Leff＜/sub＞的标准方法

发布日期： 2010-10-07

IEC 60444-11:20 10定义了测量标称值CL下负载谐振频率fL的标准方法，以及确定品质因数M>4的晶体在标称频率下有效负载电容CLeff的标准方法。

IEC 60444-11:2010 defines the standard method of measuring load resonance frequency fL at the nominal value of CL, and the determination of the effective load capacitance CLeff at the nominal frequency for crystals with the figure of merit M > 4.

分类信息

发布单位或类别：国际组织-国际电工委员会

ICS分类： 31.140电子学 - 频率控制和选择用压电器件与介质器件

关联关系

研制信息

归口单位： TC 49

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