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MICROCIRCUIT, DIGITAL, ADVANCED BIPOLAR CMOS, 3.3-V ABT SCAN TEST DEVICE WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVER, MONOLITHIC SILICON 微电路 数字 先进双极CMOS 3.3伏ABT扫描测试设备 18位通用总线收发器 单片硅
发布日期: 2004-06-09
分类信息
发布单位或类别: 美国-美国军事规范和标准
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