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现行 BS EN 60444-3:1997
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Measurement of quartz crystal unit parameters-Basic method for the measurement of two-terminal parameters of quartz crystal units up to 200 MHz by phase technique in a π-network with compensation of the parallel capacitance C<sub>0</sub> 石英晶体单元参数的测量 在并联电容C$d0补偿的$Gp网络中 通过相位技术测量200 MHz以下石英晶体单元的两个终端参数的基本方法
发布日期: 1993-09-15
包含以下内容:AMD 9659于1997年10月15日发布
Incorporates the following:AMD 9659 published 15 October 1997
分类信息
发布单位或类别: 英国-英国标准学会
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